在耐候性和耐光性測(cè)試中，選擇合適的 輻照度控制點(diǎn) 輻照度對(duì)于獲得準(zhǔn)確的結(jié)果至關(guān)重要。輻照度以單位面積的光輻射功率表示，在測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中，輻照度被指定為特定波長(zhǎng)或波長(zhǎng)范圍內(nèi)的量級(jí)。例如， ASTM G154 第一個(gè)紫外線照射周期要求 1 nm 時(shí) 0.89 W/m²/nm，而 ASTM G155 氙弧燈照射的第5個(gè)周期要求在1.10nm波長(zhǎng)下達(dá)到420 W/m²/nm的輻射強(qiáng)度。一些標(biāo)準(zhǔn)使用全紫外（TUV，300-400nm）控制，甚至使用更寬的“紫外+可見光”范圍（300-800nm）。但問題是， 如何選擇最佳控制點(diǎn)?

在熒光紫外線測(cè)試中使用 QUV試驗(yàn)機(jī)，窄帶控制波長(zhǎng)取決于燈的類型。 UVA-340燈 峰值在 340 nm 附近，使其成為一個(gè)自然的控制點(diǎn)，而 UVB-313燈 控制在 310 nm 峰值，因?yàn)?313 nm 處的峰值是汞熒光粉的產(chǎn)物，可能并不總是代表燈的輻照度。 UVA-351燈盡管峰值接近 351 nm，但為了保持一致性和校準(zhǔn)簡(jiǎn)便性，仍控制在 340 nm，如 ISO 4892-3 第 5 個(gè)周期。 UVC-254 燈 將其所有輸出集中在 254 nm，因此控制波長(zhǎng)的決定很簡(jiǎn)單！ TUV-421燈 具有更寬的紫外區(qū)甚至可見光譜，因此選擇TUV（300-400nm）控制。

對(duì)于 Q-SUN氙弧試驗(yàn)機(jī)，根據(jù)光學(xué)濾波器和測(cè)試焦點(diǎn)的目標(biāo)來選擇窄帶控制點(diǎn)。 日光濾光片，用于通常對(duì)紫外線敏感的戶外材料，通常使用 340 nm 控制點(diǎn)，確保燈老化時(shí)紫外線區(qū)域的光譜穩(wěn)定性。 窗口過濾器適用于受長(zhǎng)波長(zhǎng)紫外線或可見光影響的室內(nèi)材料，通常使用 420 nm 控制點(diǎn)，因?yàn)?340 nm 處的輻照度可能較低。然而，也有一定的靈活性——日光濾光片可以使用 420 nm 控制，而窗口濾光片（窗口紅外除外）可以使用 340 nm，具體取決于應(yīng)用。

表 1. 輻照度控制波長(zhǎng)。雙綠色復(fù)選標(biāo)記表示控制點(diǎn)可用且最常用 - 單個(gè)綠色復(fù)選標(biāo)記表示控制點(diǎn)可用且有效，但不太常用。

TUV控制 （300–400 nm）提供了一種折衷方案，在 340 nm 和 420 nm 之間取得平衡，從而捕獲總紫外線輻照度。TUV 控制在許多 ISO 和歐洲標(biāo)準(zhǔn)中都有規(guī)定，當(dāng)被測(cè)材料的光譜靈敏度未知時(shí)，這是一個(gè)不錯(cuò)的選擇。所有 Q-SUN 測(cè)試儀均提供 340 nm、420 ??nm 和 TUV 控制；Xe-8 型號(hào)將這三種標(biāo)準(zhǔn)都作為板載傳感器陣列的一部分。

光譜功率分布 Q-Portal 上提供 Q-Lab 所有濾光片和燈的光譜功率譜密度 (SPD) 數(shù)據(jù)，可用于不同設(shè)定值之間的轉(zhuǎn)換。這些數(shù)據(jù)還可用于計(jì)算曝光時(shí)間，以達(dá)到特定的輻射曝光量（以 MJ 或 kJ 為單位）。

Q-Lab 不建議使用所謂的“紫外+可見光”或“全局”控制波長(zhǎng)范圍（300-800 nm 或 300-3000 nm），原因如下。這兩個(gè)范圍都過于重視可見光和紅外光成分，而這些成分對(duì)材料耐久性的影響遠(yuǎn)不如紫外光重要。此外，測(cè)量 1000 nm 以上的輻照度非常困難，這會(huì)給測(cè)量帶來額外的誤差。

總之，選擇輻照度控制點(diǎn)基于 燈或過濾器類型 和 材料的敏感性QUV 燈始終使用與其輸出相關(guān)的控制點(diǎn)。氙氣燈可以使用窄帶（340 nm 或 420 nm）或?qū)拵В═UV）輻照度進(jìn)行控制，具體取決于測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)